AI赋能存储测试的技术路径 在武汉光谷召开的全球闪存峰会上，深圳数合泰存储测试事业部产品线总经理成卓敏发表了题为《迎接智能芯时代——AI存储测试技术的创新与产业实践》的演讲，系统阐述了其对AI与存储测试融合的技术路径思考。 成卓敏在演讲中指出，AI与存储测试的结合，核心是要解决三个问题：测试设备如何把数据测准？测试过程如何沉淀完整可追溯的数据？长期积累的测试数据如何被AI理解和利用，实现驱动AI预测、失效分析和测试决策？这一问题的提出，为存储测试行业在AI时代的转型提供了清晰的思考框架。 设备质量与数据可信度 成卓敏在演讲中强调了一个核心观点：“设备决定证据质量，证据质量决定AI判断上限。”这一论断指出了AI存储测试的基础性前提——无论算法多么先进，如果输入数据的可信度不足，最终的分析结果也将受到根本性制约。 基于这一认识，数合泰提出AI存储测试不是从模型开始，而是从可信测量开始。这一方法论强调了测试装备在整个AI应用链条中的基础性地位。 在装备布局方面，数合泰以NAND颗粒测试为核心，覆盖SSD系统测试、嵌入式存储测试以及系统级测试，将测试和验证能力从NAND颗粒延伸